X-선 광전자분광법(XPS)
- XPS 측정을 통해 시료 표면의 구성 원소들을 알아냅니다.

XPS 성분분석
- XPS 측정 스펙트럼의 측정결과를 분석하여 구성 원소들 사이의 조성비, 결합상태 등에 대한 정보를 상세히 얻습니다.

자외선 광전자분광법(UPS)
- 시료의 valence band maximum(VBM), highest occupied molecular orbital(HOMO), work function 등을 측정합니다.

역광전자분광법(IPES)
- 시료의 conduction band minimum(CBM), lowest unoccupied molecular orbital(LUMO) 등을 측정합니다. UPS 분석과 결합하여 수송 밴드 갭을 측정합니다..

반사에너지손실분광법(REELS)
- 시료에서 반사된 전자의 에너지 손실을 측정하여, 시료의 전자 구조를 분석합니다. 광학 밴드갭 및 플라즈몬 손실 등을 알 수 있습니다.

진공 중 물질 증착 분석
- 이상의 분석 및 측정을 진공 중에서 기판 위에 박막을 증착 하면서 수행할 수 있습니다. 열 증착이 가능한 유기 무기 물질은 모두 가능합니다.